• ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း
  • ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း

ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း

No.TB230621S42
TB230621S42 ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း
  • ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း

ဖော်ပြချက်

TB230621S42 ယုတ္တိဗေဒပတ်လမ်းလေ့ကျင့်ရေးကိရိယာ ပညာရေးဆိုင်ရာအလုပ်ခုံ ကျောင်းသုံးပစ္စည်းလေ့ကျင့်ရေး လျှပ်စစ်လေ့ကျင့်ရေးပစ္စည်း
စမ်းသပ်သေတ္တာကို အလူမီနီယမ်-သစ်သားသတ္တုစပ်သေတ္တာ၊ မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်ထိန်းညှိထားသောပါဝါထောက်ပံ့မှု၊ ဘုံအချက်ပြအရင်းအမြစ်နှင့် စမ်းသပ်ဆားကစ်ဧရိယာတို့ဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားသည်။ ၎င်းတို့အနက်၊ စမ်းသပ်ဆားကစ်ဧရိယာသည် အပြည့်အဝပွင့်လင်းသောမုဒ်ကို လက်ခံကျင့်သုံးပြီး စမ်းသပ်ဆားကစ်ကို အဆင့်အမျိုးမျိုးရှိ ကျောင်းသားများ၏ သင်ကြားရေးနှင့် စမ်းသပ်လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းရန် လိုအပ်ချက်များအလိုက် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်ရှိစွာ ပြင်ဆင်နိုင်သည်။
၁။ အဓိကဖွဲ့စည်းပုံ
၁။ စမ်းသပ်ဆားကစ်၏ အလုပ်လုပ်သောပါဝါထောက်ပံ့မှု- 5V/2A အုပ်စု၊ ±12V/0.7A အုပ်စု၊ -1.2V—-12V အုပ်စု၊ +1.2V—+27V အုပ်စု၊ တစ်ခုစီတွင် ဖျူ့စ်တစ်ခုစီ တပ်ဆင်ထားပြီး တစ်ခုချင်းစီတွင် ရှော့တ်ဆားကစ်ကာကွယ်မှုနှင့် ပြောင်းပြန်ကာကွယ်မှုဆားကစ်ပါရှိပြီး၊ +5V ပါဝါထောက်ပံ့မှုတွင် စမ်းသပ်မှုဆားကစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ ဘေးကင်းလုံခြုံမှုနှင့် ကိုယ်ရေးကိုယ်တာဘေးကင်းလုံခြုံမှုကို သေချာစေရန် လွန်ကဲသောဗို့အားကာကွယ်မှု၊ နိမ့်ကျသောဗို့အားကာကွယ်မှု၊ ရှော့တ်ဆားကစ်အချက်ပေးမှုနှင့် အလိုအလျောက်ပိတ်ခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်များပါရှိသည်။
၂။ ဘုံအချက်ပြအရင်းအမြစ်များ
၁) စဉ်ဆက်မပြတ် pulse signal များကို ပေးစွမ်းသည့် စဉ်ဆက်မပြတ် pulse signal များကို ပေးစွမ်းသည့် ပတ်လမ်း။ အပေါင်းနှင့် အနုတ် single-pulse ထုတ်လုပ်သည့်ဆားကစ်အုပ်စုနှစ်စုနှင့် အပေါင်းနှင့် single-pulse ထုတ်လုပ်သည့်ဆားကစ်အုပ်စုနှစ်စုရှိသည်။ ၂) 0HZ~1MHZ စဉ်ဆက်မပြတ်ချိန်ညှိနိုင်သော နာရီပတ်လမ်း။
၃) 1HZ~1MHZ ပုံသေ pulse ကို 1HZ၊ 2HZ၊ 10HZ၊ 100HZ၊ 200HZ၊ 300HZ၊ 400HZ၊ 500HZ၊ 700HZ၊ 800HZ၊ 1KHZ၊ 10KHZ၊ 100KHZ၊ 250KHZ၊ 500KHZ၊ 1MHZ ဟူ၍ အထွက် ၁၆ ခုခွဲခြားထားသည်။
၄) 10MHZ လွတ်လပ်သော crystal oscillator။
၅) အဝင်အဆုံးတွင် protection function ပါရှိသော 16-channel digital input display circuit။
၆) 16-way switching value output circuit၊ အထွက်အဆုံးတွင် display circuit ပါရှိပြီး switching value ၏ output state ကို တိုက်ရိုက်ပြသနိုင်ပြီး အထွက်အဆုံးတွင် protection function ပါရှိသည်။
၇) built-in BCD code decoding circuit ပါရှိသော 6-digit seven-segment LED common-cathode digital display။ ၈) ၂-bit လွတ်လပ်သော ခုနစ်ပိုင်း LED common cathode digital tube display။
၉) output အဆုံးတွင် protection function ပါရှိသော BCD code dial switch output circuit ၂ စုံ။
၁၀) buzzer နှင့် speaker output devices များပါရှိသော Audio output control circuit။
၃။ Test widget
၁) three-state digital logic test circuit တစ်ခု ပေးပါ။
၂) wire test circuit တစ်စုံကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။
၃) 0-50MHz liquid crystal display frequency meter တစ်ခု။
၄။ Experimental circuit area: စမ်းသပ် circuit area တွင် wiring မှားယွင်းစွာ လုပ်ဆောင်မှုကြောင့် main box ကို ပျက်စီးခြင်းမှ ကာကွယ်ရန် experimental signal source မှ လုံးဝခွဲထုတ်ထားသော လွတ်လပ်သော circuit board ဒီဇိုင်း။ Experimental circuit area ၏ configuration မှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်။
၁) IC14 round socket ၅ ခု၊ IC16 round socket ၄ ခု၊ IC20 round socket ၃ ခု နှင့် IC40 locking socket ၂ ခု (IC18-IC40 စသည်ဖြင့်) ပါဝင်သော open experimental area တစ်ခုကို configure လုပ်ပါ။ ၂) 8Ω စပီကာ ၁ ခု၊ buzzer နှင့် 1×2 switch၊ potentiometer ၄ ခု (1k၊ 50K၊ 100k၊ 680K) နှင့် resistor နှင့် capacitor expansion area များစွာ ပါရှိသည်။
၃) စမ်းသပ်မှုချိတ်ဆက်မှုအမှတ်များနှင့် စမ်းသပ်အမှတ်များအဖြစ် မြင့်မားသောယုံကြည်စိတ်ချရသော locking anti-rotation stacking socket များစွာ (integrated block socket များနှင့် internal connections၊ silver-plated long copper tubes နှင့် fixing devices များ စသည်) လည်း ပါရှိသည်။ စမ်းသပ်ဝါယာကြိုးချိတ်သည့်အခါ locking plug wire ကိုယူပြီး တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ချိတ်ဆက်ပါ။
၅။ Main board ကို 2mm အထူ printed circuit board ဖြင့် ပြုလုပ်ထားသည်။ component များ၊ component များနှင့် သက်ဆိုင်ရာ wiring များ၏ ဂရပ်ဖစ်သင်္ကေတများကို ရှေ့ဘက်တွင် ရိုက်နှိပ်ထားပြီး printed circuit ကို နောက်ကျောဘက်တွင် ရိုက်နှိပ်ထားသည်။
၆။ စမ်းသပ်ချက်များအတွက် အခြေခံပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ- 74LS00၊ 74LS02၊ 74LS04 စသည်တို့ကဲ့သို့သော အပိုင်း ၂၂ ခု။
၇။ စမ်းသပ်လိုင်းများ ချိတ်ဆက်ခြင်း
အချက်ပြ ကြိုးထုတ်ဂျက်အားလုံးသည် Φ2 self-locking ရွှေဖြင့်ဖုံးအုပ်ထားသော ဂျက်များကို အသုံးပြုထားပြီး၊ ၎င်းသည် ဘယ်တော့မှ အောက်ဆီဒိုက်မဖြစ်ဘဲ လှပသည်။ စမ်းသပ်ဝါယာကြိုး အမျိုးအစားနှစ်မျိုးရှိသည်- Φ0.5 single-strand ကြေးနီ core ဝါယာကြိုး (breadboard နှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သည်) နှင့် Φ2 self-locking stackable ဝါယာကြိုး။
၂။ လွတ်လပ်သော မော်ဂျူး
၁) သီးခြားအစိတ်အပိုင်း မော်ဂျူးဘုတ်- ဘုတ်တွင် 10Ω၊ 100Ω၊ 200Ω၊ 470Ω၊ 510Ω၊ 1K၊ 1.2K၊ 1.5K၊

4.7K၊ 5.1K၊ 10K၊ 22K၊ 47K၊ 100K၊ 150K၊ 22M တို့ကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ 20P၊ 30P၊ 100 နှင့် 100P ချိန်ညှိနိုင်သည်၊ 240P၊ 300P၊ 680P၊ 0.01uF၊ 0.02uF၊ 0.047uF၊ 0.1uF၊ 10uF/16V၊ 47uF/16V၊ 100uF/16V; Diodes 2AK2၊ 2CK13၊ 2CK15၊ IN4007; Transistors 3DG6 နှင့် 3DK2; Crystal oscillator 32768HZ; အခြေခံစမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များ။
၂) FPGA မော်ဂျူး- EPM2C8T144 ချစ်ပ်နှင့် 1MFLASH configuration ချစ်ပ်နှင့် download interface ပါရှိသော I/O port အားလုံးကို cable interface မှ ထုတ်လွှတ်ပြီး supporting programming software ကို အချိန်မရွေး update လုပ်နိုင်ပါသည်။ ၃။ စမ်းသပ်ပရောဂျက်
အခြေခံစမ်းသပ်ချက်
၁။ ထရန်စစ္စတာ switching ဝိသေသလက္ခဏာများ၊ limiter နှင့် clamper
၂။ TTL integrated logic gate ၏ logic function နှင့် parameter စမ်းသပ်မှု
၃။ CMOS integrated logic gate ၏ logic function နှင့် parameter စမ်းသပ်မှု
၄။ integrated logic circuits များ၏ ချိတ်ဆက်မှုနှင့် မောင်းနှင်မှု
၅။ combinational logic circuits များ၏ ဒီဇိုင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်း
၆။ Decoder နှင့် ၎င်း၏အသုံးချမှု
၇။ Data selector နှင့် ၎င်း၏အသုံးချမှု
၈။ triggers နှင့် ၎င်းတို့၏အသုံးချမှု
၉။ Counter နှင့် ၎င်း၏အသုံးချမှု
၁၀။ Shift register နှင့် ၎င်း၏အသုံးချမှု
၁၁။ Pulse distributor နှင့် ၎င်း၏အသုံးချမှု
၁၂။ pulse signal ကိုထုတ်ပေးရန် gate circuit ကိုအသုံးပြုခြင်း - self-excited multivibrator
၁၃။ Monostable trigger နှင့် Schmitt trigger - pulse delay နှင့် waveform shapi
ng ဆားကစ်
၁၄။ ၅၅၅ အချိန်အခြေခံ ဆားကစ်နှင့် ၎င်း၏ အသုံးချမှု
၁၅။ FPGA အပလီကေးရှင်း ဒီဇိုင်း စမ်းသပ်မှု
၁) ၃-၈ ဒီကုဒ်ဒါ စမ်းသပ်မှု
၂) ၈-၃ အန်ကုဒ်ဒါ စမ်းသပ်မှု
၃) ဒစ်ဂျစ်တယ် ပြောင်းလဲခြင်းနှင့် မျက်နှာပြင် ဆားကစ်
၄) လေး-ဘစ် အပြည့် ပေါင်းဒါ
၅) လေး-ဘစ် ပါလෝပလီယာ
၆) အခြေခံ ဖလစ်ဖလော့များကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ
၇) 74LS160 ကောင်တာ လုပ်ဆောင်ချက် မော်ဂျူးကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ
၄။ စမ်းသပ်မှု သေတ္တာ ပုံစံ
နံပါတ် အမည် ရှင်းလင်းချက် အရေအတွက်
၁ TB230621S42 အဓိက သေတ္တာ ကိုယ်ထည်၊ အလုပ်လုပ်သော ပါဝါထောက်ပံ့မှု၊ ဘုံ အချက်ပြ အရင်းအမြစ်များနှင့် စမ်းသပ်မှု ဆားကစ် ဧရိယာကဲ့သို့သော အဓိက အစိတ်အပိုင်းများ၏ အကြောင်းအရာအားလုံး ပါဝင်သည် ၁ စုံ
၂ FPGA မော်ဂျူး + ဒေါင်းလုဒ်လိုင်း Core ချစ်ပ် EPM2C8T144 ၁ စုံ
၃ ပါဝါကြိုး ၁.၅ မီတာ ၁ ခု
၄ နံပါတ် ၂ စမ်းသပ် ကြိုး ၃၀ စင်တီမီတာ-၅၀ စင်တီမီတာ ၃၅ ခု
၅ ဖျူစ် ၂A ၂ ခု
၆ စမ်းသပ်မှု လမ်းညွှန် ၁ စုံ
ပူးတွဲပါ ပူးတွဲပါ ကိရိယာ- ဤစမ်းသပ်မှု သေတ္တာကို အသုံးပြုရန်အတွက် အထောက်အပံ့ ကိရိယာများ လိုအပ်သည်- မာလ်တီမီတာနှင့် အော်စီလိုစကုပ်။